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Tecnai G 20 TWIN生物透射電鏡

對材料特性的全面認識是理解材料性能的基本前提。材料形態、晶體結構、化學成分、界面結構、表面以及缺陷都對材料的性能產生影響。透射電子顯微鏡已經被證實是在小到埃級尺寸研究各種普通材料和先進材料的非常有效的技術。它能夠產生很多的信號,這些信號攜帶了不同類型的有用信息。經過特殊設計可以快速有效地采集和處理這些信號。將高分辨圖像、明場/暗場圖像、STEM圖像、電子衍射和詳細的微觀分析有機的結合起來,使成為材料分析研究的重要儀器。

可以根據不同用戶的配置要求供貨。標準型儀器提供了已被證實的多項先進技術: 既可得到高分辨圖像又保持高傾角(最大40°)的S-TWIN物鏡, 提供樣品精確控制和機械穩定性優異的CompuStage樣品臺。可以安裝完全集成式設計的數字化的STEM(透射掃描附件)、EDX(能譜儀)和能量過濾或PEELS(能量損失譜)。這些技術可結合起來完成頻譜分布和頻譜圖像的分析工作。為材料分析研究用戶提供了穩定性、操作方便性和高性能的優異組合。無論是在常規分析,還是亞微米研究,都能夠滿足日益增多的樣品數量。

為滿足結構生物學研究的需要，FEI公司還設計制造了配置TWIN物鏡和Cryo冷凍樣品臺的專門系統:

其主要技術特點：

- TWIN物鏡系統,點分辨率0.27nm

- 樣品最大傾角 +/- 70°

- Cryo液氮冷凍樣品臺及冷凍轉移設備

- 全自動化的數據采集和數據處理系統

技術參數：

1.LaB6燈絲或鎢燈絲

2.點分辨率

U-TWIN 0.19nm

S-TWIN 0.24nm ; TWIN 0.27nm

3.加速電壓 20-200kV,連續可調

4.放大倍數 25x - 1100kx

5.樣品最大傾角: S-TWIN +/- 40° ; TWIN +/- 70°

6.計算機控制的全數字化電鏡,基于Windows XP的用戶界面

主要特點：

1.100%數字化系統

2.FEI專利技術S-TWIN/U-TWIN物鏡

3.CompuStage樣品臺提供高精度的樣品位置控制

4.全連鎖的潔凈的真空系統

5.可選完全集成化的各種附件, 如能譜儀、CCD相機等